Ausschreibung
Tschechien – Rasterelektronenmikroskope – UPOL/PřF/KEF - Systém FIB-SEM včetně analytických technik a nanoindentace
Beschreibung
Předmětem Veřejné zakázky je dodávka mikroskopického systému FIB-SEM (skenovací elektronový mikroskop s iontovým svazkem) s možností depozice nejméně tří materiálů (platina, uhlík, wolfram) a s navazujícími analytickými technikami pro detailní analýzu studovaných materiálů (4DSTEM, EBSD, EDS, Nanoindentace, TOF-SIMS). Minimální požadavky na předmět Veřejné zakázky jsou vymezeny technickými, obchodními nebo jinými smluvními podmínkami, které jsou přílohou Zadávací dokumentace. A to zejména Technickou specifikací a závazným Zněním smlouvy.
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Univerzita Palackého v Olomouci
- CPV
-
38511100 — Rasterelektronenmikroskope
Weitere: 38512100, 38433000, 38433100 - Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 18.08.2026
- Angebotsfrist
- 22.09.2026, 23:59
- Vergabenummer
- 5129a0b5-5462-4f97-9a8b-82c8fae697bc
- Quelle
- ted
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
24.07.2026
Tschechien – Rasterelektronenmikroskope – UPOL/PřF/KEF - Systém FIB-SEM včetně analytických technik a nanoindentace -
Ausschreibung
18.08.2026
Tschechien – Rasterelektronenmikroskope – UPOL/PřF/KEF - Systém FIB-SEM včetně analytických technik a nanoindentace -
Ausschreibung
03.09.2026
Tschechien – Rasterelektronenmikroskope – UPOL/PřF/KEF - Systém FIB-SEM včetně analytických technik a nanoindentace
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 18:26.