Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Rastersondenmikroskope – Raman- & AFM-System
Beschreibung
Das Fraunhofer-Institut für Lasertechnik ILT beabsichtigt die Beschaffung sowohl eines konfokalen Raman-Mikroskops zur mikro- und nanoskaligen Vermessung der kristallographischen Eigenschaften verschiedener Materialien wie Glas, Saphir oder diverser Halbleiter sowie eines Rasterkraftmikroskops (AFM) zur nanoskaligen Vermessung der Topografie sowie der elektrischen Eigenschaften verschiedener Materialien, wie Glas, Saphir oder diverse Halbleiter.
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer Institut für Lasertechnik
- Ort
- Aachen
- Bundesland
- Nordrhein-Westfalen
- CPV
- 38514200 — Rastersondenmikroskope
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 15.05.2026
- Zuschlag am
- 28.04.2026
- Vergabenummer
- 26621f5e-25c8-4c97-b3df-82161e9be31b
- Quelle
- ted
Lose
- Los LOT-0000
Zuschlag
- Oxford Instruments GmbHWiesbaden
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 19:13.