Ergebnis der Vergabe

Raman- & AFM-System

650.000 € Geschätzter Wert

650.000 € Zuschlagswert

Beschreibung

Das Fraunhofer-Institut für Lasertechnik ILT beabsichtigt die Beschaffung sowohl eines konfokalen Raman-Mikroskops zur mikro- und nanoskaligen Vermessung der kristallographischen Eigenschaften verschiedener Materialien wie Glas, Saphir oder diverser Halbleiter sowie eines Rasterkraftmikroskops (AFM) zur nanoskaligen Vermessung der Topografie sowie der elektrischen Eigenschaften verschiedener Materialien, wie Glas, Saphir oder diverse Halbleiter.

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: Fraunhofer Institut für Lasertechnik
Ort: Aachen
Bundesland: Nordrhein-Westfalen
CPV: 38514200 — Rastersondenmikroskope
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Veröffentlicht: 13.05.2026
Quelle: doee

Zuschlag

Oxford Instruments GmbH

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 17:43.