Ergebnis der Vergabe

Polen – Verschiedene Bestandteile von Mikroskopen – „Zakup holdera do badań SEM (Scanning Electron Microscopy)”

2 Bieter
1 Los

Beschreibung

Przedmiotem zamówienia jest zakup nieużywanego holdera do badań SEM (Scanning Electron Microscopy), umożliwiającego przeprowadzanie analiz właściwości mechanicznych materiałów techniką nanoindentacji bezpośrednio w komorze mikroskopu podczas jego działania. Zamawiający oczekuje rozwiązania kompletnego, gotowego do użycia, które nie wymaga zakupu żadnych dodatkowych akcesoriów, elementów montażowych ani dodatkowego oprzyrządowania w celu realizacji założonych funkcjonalności. Przedmiot zamówienia obejmuje zakup, rozumiany jako transport, wniesienie, montaż, instalację, uruchomienie oraz przeprowadzenie szkolenia dla wskazanych przez Zamawiającego pracowników w zakresie obsługi oferowanego urządzenia oraz dedykowanego oprogramowania. Szczegółowo przedmiot zamówienia opisany został w Tomie III SWZ – Opis przedmiotu zamówienia

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

Analyse ansehen

Angaben aus der Bekanntmachung

Ort
Otwock
Bundesland
Makroregion województwo mazowieckie
CPV
38519000 — Verschiedene Bestandteile von Mikroskopen
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
06.05.2026
Zuschlag am
04.05.2026
Kennung
b2ec49ce-bb37-42f0-874c-37df5f10a57c
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Zuschlag

Verlauf des Verfahrens

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 19:08.