Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Dual-Beam Feldemissions-Raterelektronenmikroskop
Beschreibung
Im Rahmen der vorliegenden Beschaffungsmaßnahme ist an der Universität Rostock am Lehrstuhl für Werkstofftechnik ein Dual-Beam Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Gallium-Ionenstrahl (Dual-Beam FE-REM/Ga-FIB) zu beschaffen. Das Dual-Beam FE-REM/Ga-FIB soll für die Untersuchung von Werkstoffen und Materialien unterschiedlichster Herkunft und Zusammensetzung eingesetzt werden.
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Universität Rostock
- Ort
- Rostock
- Bundesland
- Mecklenburg-Vorpommern
- CPV
- 38511100 — Rasterelektronenmikroskope
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 13.05.2026
- Zuschlag am
- 12.05.2026
- Kennung
- c0f2729a-1e3f-4205-8d95-7b0d9eaf035c
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 1
Zuschlag
- Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbHOberkochen
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
27.03.2026
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Dual-Beam Feldemissions-Raterelektronenmikroskop -
Ergebnis der Vergabe
12.05.2026
Dual-Beam Feldemissions-Raterelektronenmikroskop -
Ergebnis der Vergabe
13.05.2026
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Dual-Beam Feldemissions-Raterelektronenmikroskop
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 19:12.