Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – Halbautomatisches Wafer-Testsystem für elektrische Feldpolarisation
Beschreibung
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für den Kauf eines (1) Wafer-Testsystems, um eine elektrische Kontaktierung zu Mikroelektroden auf Waferskala für die elektrische Feldpolarisation ferroelektrischer Dünnschichten zu erreichen und damit die Herstellung integrierter polarisierter Wellenleiter auf Waferskala für die nichtlineare Frequenzumwandlung zu ermöglichen. Die technischen Leistungsparameter aus Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen.
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Friedrich-Schiller-Universität Jena
- Ort
- Jena
- Bundesland
- Thüringen
- CPV
- 38000000 — Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 28.05.2026
- Zuschlag am
- 19.05.2026
- Kennung
- ef449a47-c43e-46b7-b6a8-b6a1d5588a91
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 1
Zuschlag
- ATV Systems GmbHDresden
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
11.03.2026
Deutschland – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – Halbautomatisches Wafer-Testsystem für elektrische Feldpolarisation -
Ergebnis der Vergabe
27.05.2026
Halbautomatisches Wafer-Testsystem für elektrische Feldpolarisation -
Ergebnis der Vergabe
28.05.2026
Deutschland – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – Halbautomatisches Wafer-Testsystem für elektrische Feldpolarisation
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 19:18.