Zuschlagsreif

Ergebnis der Vergabe

Tschechien – Elektronenmikroskope – Skenovací elektronový mikroskop s vysokým rozlišením a s analýzou prvkového a fázového složení a krystalografické orientace

2 Bieter
1 Los

Beschreibung

Předmětem veřejné zakázky je dodávka skenovacího elektronového mikroskopu (SEM) s detektory EDS a EBSD k povrchové analýze pevných látek s mikro- až nanometrovým rozlišením umožňujícího charakterizaci morfologie a mikrostruktury, prvkového a fázového složení a krystalografické orientace ve vodivých i nevodivých vzorcích.

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Ort
Praha
Bundesland
Česko
CPV
38511000 — Elektronenmikroskope
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
30.06.2026
Zuschlag am
24.06.2026
Kennung
1d55acd8-3e05-4b04-b3bc-d8729094a42e
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Zuschlag

Verlauf des Verfahrens

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 19:34.