Zuschlagsreif

Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Maschinen für allgemeine und besondere Zwecke – Inline automatic optical inspection (AOI) with high-speed Analysis for QMI systems

1 Bieter
1 Los

Beschreibung

Modular, fully automated prober for optical inspection and electrical contact of electronic, photonic and mi-cro‑mechanical devices — including advanced manufacturing approaches such as quasi‑monolithic integration. The system handles 200 mm wafers as well as frames, tapes, trays and comparable substrates. An end‑to‑end carrier handling system loads carriers with mounted substrates from specialized cassettes, positions them on the prober's vacuum chuck and performs fully automated alignment. A testcard/probe‑card interface is provided for electrical connection. Probe detection and fine positioning are performed automatically to ensure reproducible contact conditions. The control software supports program-mable sequence control and reference‑point based alignment. For optical inspection the system offers a movable mechanical interface to accept modular, customer‑supplied optical inspection modules (e.g., microscope with camera) with lateral and vertical adjustment. The space above the p

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.
Ort
Erlangen
Bundesland
Sachsen
CPV
42900000 — Maschinen für allgemeine und besondere Zwecke
Verfahrensart
Nichtoffenes Verfahren
Veröffentlicht
08.07.2026
Zuschlag am
06.07.2026
Kennung
6b550ef3-3690-4384-9c5b-4425d6f28ded
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Zuschlag

Verlauf des Verfahrens

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 19:37.