Ausschreibung
Niederlande – Elektronenmikroskope – Metrology SEM+FIB system
Zu diesem Verfahren liegt bereits ein Zuschlag vor. Die Frist unten steht so in der Bekanntmachung; vergeben ist der Auftrag trotzdem. Zum Ergebnis
15.05.2026, 12:00
Angebotsfrist · abgelaufen
800.000 €
Schätzwert der Vergabestelle
1
Los
Beschreibung
Levering en installatie van één Metrology SEM+FIB‑systeem Het doel van deze aanbesteding is dat TNO beoogt een overeenkomst aan te gaan met één (1) opdrachtnemer voor de levering en installatie van één Metrology SEM+FIB‑systeem
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Ort
- Den Haag
- CPV
- 38511000 — Elektronenmikroskope
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 07.04.2026
- Angebotsfrist
- 15.05.2026, 12:00
- Kennung
- 2cf16b26-720f-4590-8d48-2d50c0f9fee4
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0800.000 €
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
07.04.2026
Niederlande – Elektronenmikroskope – Metrology SEM+FIB system -
Ergebnis der Vergabe
21.05.2026
Niederlande – Elektronenmikroskope – Metrology SEM+FIB system
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 17:26.