Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes

219.340 € Geschätzter Wert
219.340 € Zuschlagswert
1 Bieter
1 Los

Beschreibung

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena möchte ein Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes (scattering Scanning Nearfield Optical Microscope s-SNOM) beschaffen. Dieses soll die Charakterisierung der Anregungsdynamik nanostrukturierter Oberflächen unter Anregung mit kohärenter Laserstrahlung im sichtbaren bis infraroten Spektralbereich mit einer lateralen Ortsauflösung von 30 nm durch intensitäts- und phasenaufgelöste Vermessung des an einer Spitze gestreuten optischen Nachfeldes ermöglichen. Die technischen Leistungsparameter aus Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen.

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber
Friedrich-Schiller-Universität Jena
Ort
Jena
Bundesland
Thüringen
CPV
38000000 — Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
11.03.2026
Zuschlag am
09.03.2026
Kennung
ac65c0a5-02d1-43c0-b69a-e91ee646df62
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Zuschlag

Verlauf des Verfahrens

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 17:35.