Ausschreibung

Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Waferprober

26.02.2026 Angebotsfrist · abgelaufen
1 Los

Beschreibung

Gegenstand der Anschaffung ist ein Wafer Prober für den elektrischen Test von Halbleiterwafern mit einer Größe von 150 mm bis 300 mm.

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber
Technische Universität München
Ort
München
Bundesland
Bayern
CPV
38500000 — Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
Weitere: 38540000
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
09.02.2026
Angebotsfrist
26.02.2026, 08:00
Kennung
44f69426-3e8b-42a8-bc0c-04367b9401c5
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Verlauf des Verfahrens

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 17:53.