Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften – Ionenfeinstrahlanlage (FIB)
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Bieter
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Los
Beschreibung
Gegenstand des Vergabeverfahrens ist die Lieferung und betriebsbereite Übergabe einer Ionenfeinstrahlanlage (Focused Ion Beam System, FIB) .
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Ort
- Dresden
- Bundesland
- Sachsen
- CPV
- 38400000 — Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 18.02.2026
- Zuschlag am
- 13.02.2026
- Kennung
- 74398204-a5bc-4cac-8694-7d384b89e825
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Zuschlag
- FEI Deutschland GmbHDreieich
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
12.01.2026
Deutschland – Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften – Ionenfeinstrahlanlage (FIB) -
Ergebnis der Vergabe
18.02.2026
Deutschland – Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften – Ionenfeinstrahlanlage (FIB)
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 17:58.