Ausschreibung
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Automated wafer prober (IMS-04) - PR1119714-2380-P
03.03.2026
Angebotsfrist · abgelaufen
1
Los
Beschreibung
Automated wafer prober (IMS-04)
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Ort
- München
- Bundesland
- Sachsen
- CPV
- 38500000 — Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 30.01.2026
- Angebotsfrist
- 03.03.2026, 10:00
- Kennung
- 5b416964-e52b-4a76-9308-63e33942fd2f
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
30.01.2026
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Automated wafer prober (IMS-04) - PR1119714-2380-P -
Ergebnis der Vergabe
18.05.2026
Automated wafer prober (IMS-04) - PR1119714-2380-P -
Ergebnis der Vergabe
19.05.2026
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Automated wafer prober (IMS-04) - PR1119714-2380-P
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 18:22.