Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke – Wafer inspection system (WIS) - PR1006153-2350 -W

1 Bieter

1 Los

Beschreibung

PR1006153-2350 -W Automatisiertes Waferinspektiosnsystem /Wafer inspection system (WIS) with automated handling and sorting station for the characterization and classification of crystalline silicon wafers for solar cell production

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Ort: München
CPV: 42990000 — Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
Veröffentlicht: 12.12.2025
Zuschlag am: 10.12.2025
Kennung: c457078d-9317-437e-8c25-941455ef5d3e
Quelle: TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Los 0

Zuschlag

FORTIXSeo-gu, Incheon, Korea

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Original-Bekanntmachung

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 18:31.