Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Elektronenmikroskope – Kauf, Lieferung und Installation eines Rasterkraftmikroskops (AFM)

3 Bieter
1 Los

Beschreibung

Gesucht wird für anwendungsorientierte wissenschaftliche Grundlagenforschung ein System zur hochauflösenden Bildgebung von molekularen Systemen auf Oberflächen. Dieses grundlegende AFM-System soll die Möglichkeit bieten, das vorhandene System für zukünftige rastertunnelmikroskopische Experimente (STM), u.a. durch eine elektrochemische Zelle, aufzurüsten. Das Hauptziel besteht darin, hochauflösende AFM-Experimente zu ermöglichen und gleichzeitig eine umfassende Reihe von STM-Funktionen und elektrischen Charakterisierungen hinzuzufügen. Zusätzliche oder ergänzende Messmethoden werden demnach in dem Angebot entsprechend bewertet (weitere Details siehe 2. Leistungsbeschreibung). Neben dem Messsystem sollten der Computer zur Ansteuerung inklusive voll entwickelter Software, Training sowie Installation Bestandteil dieser Ausschreibung sein.

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber
Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung e.V.
Ort
Leipzig
Bundesland
Sachsen
CPV
38511000 — Elektronenmikroskope
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
12.12.2025
Zuschlag am
27.11.2025
Kennung
e6ba6fe5-30ae-41f3-8c44-f4d7e9ebac01
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Zuschlag

Verlauf des Verfahrens

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 18:31.