Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Kauf, Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskopes

3 Bieter
1 Los

Beschreibung

Für die elektronenmikroskopische Untersuchung inklusive chemischer Analyse wird der Kauf eines neuen Rasterelektronenmikroskopes (Neugerät) inklusive der Lieferung, Installation und Einweisung am Gerät ausge¬schrieben. Am Leibniz IOM werden sehr unterschiedliche Proben untersucht, diese reichen von porösen Polymermembranen über beschichtete Glas- bzw. Keramikproben bis hin zu nanostrukturierten Metall- bzw. Halbleiteroberflächen. Dieses breite Portfolio an Proben muss zuverlässig messbar sein. Das neue Rasterelektronenmikroskop muss sich durch eine hohe Benutzerfreundlichkeit auszeichnen. Im Rahmen der zunehmenden Digitalisierung des Wissenschaftsbetriebes ist ein hohes Maß an Automatisierung und die Möglichkeit der Nutzung von KI-Methoden von höchster Priorität. Als Budget steht dem Auftraggeber ein maximaler Betrag in Höhe von 835.000 Euro (netto, ohne MwSt.) zur Verfügung.

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Ort
Leipzig
Bundesland
Sachsen
CPV
38500000 — Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
17.12.2025
Zuschlag am
12.12.2025
Kennung
6a1aeaae-bf10-4033-9af6-92edad409f70
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Zuschlag

Verlauf des Verfahrens

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 18:34.