Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Wafer Prober (IMS-04) - PR899917-2380-P
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Bieter
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Los
Beschreibung
Wafer Prober (IMS-04)
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Ort
- München
- Bundesland
- Nordrhein-Westfalen
- CPV
- 38500000 — Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
- Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
- Veröffentlicht
- 07.11.2025
- Kennung
- 785a5447-2a8e-4036-afd1-f15e162c8950
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
13.05.2025
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Wafer Prober (IMS-04) - PR899917-2380-P -
Ergebnis der Vergabe
07.11.2025
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Wafer Prober (IMS-04) - PR899917-2380-P
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 18:45.