Ergebnis der Vergabe
Polen – Rastersondenmikroskope – Dostawa kontrolera oraz głowicy AFM dla IFJ PAN w Krakowie (DZP.260.27.2025)
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Bieter
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Los
Beschreibung
Przedmiotem zamówienia jest dostawa kontrolera oraz głowicy AFM do posiadanego przez zamawiającego mikroskopu sił atomowych (AFM) Nanowizard IV zintegrowanego z odwróconym mikroskopem optycznym i fluorescencyjnym dla IFJ PAN w Krakowie. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia określa załącznik nr: 1 do SWZ.
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Ort
- Kraków
- Bundesland
- Makroregion południowy
- CPV
- 38514200 — Rastersondenmikroskope
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 07.11.2025
- Zuschlag am
- 30.10.2025
- Kennung
- 0cdd4d04-36c6-4a29-8a5b-544ef10d0de4
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 1
Zuschlag
- Labsoft Sp. z o.o.Warszawa
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
09.10.2025
Polen – Rastersondenmikroskope – Dostawa kontrolera oraz głowicy AFM dla IFJ PAN w Krakowie (DZP.260.27.2025) -
Ergebnis der Vergabe
07.11.2025
Polen – Rastersondenmikroskope – Dostawa kontrolera oraz głowicy AFM dla IFJ PAN w Krakowie (DZP.260.27.2025)
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 18:45.