Ergebnis der Vergabe

Niederlande – Rasterelektronenmikroskope – Maintenance contract for the TEM (2 years) and PFIB (4 years)

499.606 € Geschätzter Wert
499.606 € Zuschlagswert
1 Bieter
1 Los

Beschreibung

Multiannual preventive and corrective maintenance contract for the Transmission Electron Microscope (TEM) s/n D 216 (and Plasma Focused Ion Beam (PFIB) Helios 4S, s/n 9952899. The service contract covers a period of two years for the TEM and four years for the PFIB and includes consumables, spare parts and labor. The TEM has a shorter duration due to the lifetime expectation of the instrument.

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber
European Commission, DG JRC - Joint Research Centre
Ort
Petten
CPV
38511100 — Rasterelektronenmikroskope
Weitere: 38511000, 38511200
Verfahrensart
Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
Veröffentlicht
18.11.2025
Zuschlag am
14.11.2025
Kennung
d3007fc8-b21b-401c-bcdd-5246b127179a
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Zuschlag

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 18:50.