Zuschlagsreif

Ausschreibung

Polen – Rastersondenmikroskope – Dostawa mikroskopu sił atomowych umożliwiającego pomiary automatyczne

21.11.2025 Angebotsfrist · abgelaufen
1 Los

Beschreibung

Przedmiotem zamówienia jest zestaw mikroskopu sił atomowych (ang. atomic force microscope- AFM) umożliwiający pomiar topografii i innych właściwości podłoży oraz warstw epitaksjalnych struktur półprzewodnikowych, w szczególności wytworzonych metodą MBE na podłożach GaN, składający się z: 1) Niezależnych skanerów w osi Z oraz XY przy czym skaner osi Z jest zintegrowany w głowicy mikroskopu, a skaner XY, jest elementem stolika skanującego. 2) Zautomatyzowanego stolika umożliwiającego pomiary podłoży o średnicy 2” , jak również pomiary mniejszych próbek. 3) Zestawu optycznego do podglądu próbki 4) Elektronicznego, cyfrowego kontrolera mikroskopu 5) Komory dźwiękochłonnej i aktywnej platformy antywibracyjnej. 6) Zestawu komputerowego Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się punkcie 3 SWZ

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

Dossier ansehen

Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber
Instytut Wysokich Ciśnień Polskiej Akademii Nauk
Ort
Warszawa
Bundesland
Makroregion województwo mazowieckie
CPV
38514200 — Rastersondenmikroskope
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
21.10.2025
Angebotsfrist
21.11.2025, 11:00
Kennung
a0ec38b5-b62f-483b-bc97-cd08d4bcdf1c
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Verlauf des Verfahrens

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 19:08.