Ausschreibung
Schweiz – Rastersondenmikroskope – Low-temperature scanning probe microscope for in-operando device nanoscopy
Beschreibung
The subject of this tender is a low-temperature (<3K), ultrahigh vacuum (UHV) scanning probe microscopy system with optical access to the scanned sample to pinpoint device structures in the sub-micrometer range to be investigated on the atomic level. The system provides state-of-the-art scanning tunneling microscopy (STM), spectroscopy (STS) and tuning fork based noncontact atomic force microscopy (nc-AFM), including UHV preparation chamber and load lock.
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Empa zentraler Einkauf
- Ort
- Dübendorf
- CPV
- 38514200 — Rastersondenmikroskope
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 27.10.2025
- Angebotsfrist
- 26.11.2025, 23:59
- Kennung
- f42f4320-9ed7-485c-8618-4112d2196cd2
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
27.10.2025
Schweiz – Rastersondenmikroskope – Low-temperature scanning probe microscope for in-operando device nanoscopy -
Ergebnis der Vergabe
30.03.2026
Schweiz – Rastersondenmikroskope – Low-temperature scanning probe microscope for in-operando device nanoscopy
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 19:11.