Suche Branchen Zuschläge Demo Preise Hilfe Konto anlegen Anmelden

Ergebnis der Vergabe

Schweiz – Rasterelektronenmikroskope – Ein serielles Block-Face-Rasterelektronenmikroskop

520.280 € Zuschlagswert
3 Bieter
1 Los

Beschreibung

Die EPFL beabsichtigt, ein serielles Block-Face-Rasterelektronenmikroskop anzuschaffen, das für die hochauflösende Abbildung von seriellen Dünnschnitten und die Block-Face-Rasterelektronenmikroskopie (SBF-SEM) konzipiert ist. Das System muss ein leicht abnehmbares Ultramikrotom für automatisierte Serienschnitte und Bildgebung enthalten. Das Mikroskop wird von Forschungsgruppen hauptsächlich im Bereich der Biowissenschaften eingesetzt und am Zentrum für Elektronenmikroskopie (CIME) der EPFL installiert. Mindestanforderungen: Hochauflösendes SEM mit Sekundär- und Rückstreuelektronen-Imaging Niedervakuum-Abbildungsmodus Integriertes In-situ-Ultramikrotom für automatisiertes Schneiden und Abbilden von Blockflächen Automatisierte Serienbildgebung und Datenerfassung für 3D-Rekonstruktion Fortschrittliche Ladungsminderungstechniken zur Minimierung von Bildverzerrungen bei schlecht leitenden Proben Benutzerfreundliche Software für die Bildausrichtung, -verarbeitung und -analyse

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

Analyse ansehen

Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber
EPFL-Scientific Equipment
Ort
Lausanne
CPV
38511100 — Rasterelektronenmikroskope
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
17.09.2025
Zuschlag am
16.09.2025
Kennung
50495659-a6a4-4e46-b408-cec738dedcc0
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Zuschlag

Verlauf des Verfahrens

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 19:27.