Ausschreibung

Frankreich – Mikroelektronische Maschinen und Geräte – Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)

01.10.2025 Teilnahmefrist · abgelaufen

1 Los

Beschreibung

La consultation comprend : - La fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB), - Des options à chiffrage obligatoire : o Option n°1 : Formation à la maintenance 1er niveau o Option n°2 : Précurseurs supplémentaires o Option n°3 : Porte-échantillons supplémentaires o Option n°4 : Consommables (y compris les configurations d'ouverture standard) o Option n°5 : Système de transfert ou matériaux sensibles o Option n°6 : Refroidissement des échantillons sans azote o Option n°7 : Refroidissement des échantillons à l'azote - Des options à chiffrage facultatif : o Option n°8 : Bouteille de xénon pour la source (avec durée de vie prévue/garantie) o Option n°9 : Possibilité de filtrer les électrons secondaires du signal rétrodiffusé o Option n°10 : Système d'injection de gaz avec plusieurs précurseurs sur une seule bride o Option n°11 : Formation à la maintenance avancée

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES
Ort: Grenoble
Bundesland: Auvergne-Rhône-Alpes
CPV: 31712100 — Mikroelektronische Maschinen und Geräte
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
Veröffentlicht: 11.08.2025
Teilnahmefrist: 01.10.2025, 12:00
Kennung: 0bc5d84c-80ae-4471-8e03-1d9cf4d04b7f
Quelle: TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Los 1

Verlauf des Verfahrens

Ausschreibung 11.08.2025
Frankreich – Mikroelektronische Maschinen und Geräte – Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)
Ergebnis der Vergabe 30.04.2026
Frankreich – Mikroelektronische Maschinen und Geräte – Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)

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Original-Bekanntmachung

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 19:40.