Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Elektronische Messgeräte – Waferinspection (IZM-14.1) - PR958425-2590-P
2
Bieter
1
Los
Beschreibung
Waferinspection (IZM-14.1)
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Ort
- München
- Bundesland
- Berlin
- CPV
- 38552000 — Elektronische Messgeräte
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 20.08.2025
- Zuschlag am
- 19.08.2025
- Kennung
- 6dc24205-4621-465a-b5be-312da3328072
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Zuschlag
- Sentronics Metrology GmbHMannheim
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
11.06.2025
Deutschland – Elektronische Messgeräte – Waferinspection (IZM-14.1) - PR958425-2590-P -
Ergebnis der Vergabe
20.08.2025
Deutschland – Elektronische Messgeräte – Waferinspection (IZM-14.1) - PR958425-2590-P
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 19:45.