Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Beschaffung eines Hydra Bio CX Small Dual Beam Mikroskop
Beschreibung
Am Max-Planck-Institut für Biochemie (MPIB) ist eine Forschungsgruppe für KryoEM Technologie eingerichtet. Die Gruppe widmet sich der Entwicklung und Anwendung innovativer Werkzeuge und Technologien in der Kryo-Elektronenmikroskopie (cryoEM) und insbesondere der Kryo-Elektronentomographie (cryoET). Zu Forschungszwecken möchte die Forschungsgruppe ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (FE-REM bzw. FE-SEM: Field-Emission-Scanning Electron Microscope) mit einem hochmodernen fokussierten induktiv gekoppelten Plasma-Ionenstrahl beschaffen. Das Mikroskop soll sowohl für die kryogene Probenpräparation als auch die Bildgebung, insbesondere die Kryo-Volumen-EM-Bildgebung, verwendet werden. Kryogene Proben ("Frozen-hydrated") sind vitrifizierte Proben, die sowohl mittels Schockgefrieren bei atmosphärischem Druck ("Plunge-freezing") als auch unter Hochdruck ("High-pressure freezing; HPF"), bei ca. 2000 bar, hergestellt werden. Die Proben sollen mit einem Plasma-Ionenstrahl (Focused-Ion-Beam, FIB) präpariert werden. Dieser Plasma-Ionen-Strahl dient der gezielten Entfernung von Material (Ablation). Der fokussierte induktiv gekoppelte Plasma-Ionenstrahl soll eine ortsspezifische großvolumige Materialentfernung und präzises Top-Down- und Querschnittfräsen ermöglichen. Ein wichtiger Vorteil der Verwendung von Plasmaquellen sind die höheren Strahlströme. Dies ermöglicht die Ablation von großen, unter hohem Druck gefrorenen Gewebeproben mit bis zu einer Größenordnung höheren Ablations-Raten im Vergleich zu herkömmlichen Flüssigmetall-Ionen-quellen, die häufig mit Gallium-Ionen betrieben werden.
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Ort
- München
- Bundesland
- Bayern
- CPV
-
38511100 — Rasterelektronenmikroskope
Weitere: 38512100 - Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
- Veröffentlicht
- 04.07.2025
- Zuschlag am
- 16.06.2025
- Kennung
- ebcef939-dbad-4e12-bfd0-6181a4fd8a3d
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 1
Zuschlag
- FEI Deutschland GmbHDreieich
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 19:54.