Zuschlagsreif

Ausschreibung

Schweiz – Elektronenmikroskope – FIB / TEM Ga Focused Ion Beam Instrument and Transmission Electron Microscope

10.08.2025 Angebotsfrist · abgelaufen
1 Los

Beschreibung

The two instruments shall warrant a smooth workflow for TEM sample preparation by FIB and state-of-the-art sample characterization by analytical, high-resolution TEM/STEM, particularly, but not exclusively. A broad spectrum of materials science samples shall be addressed, including highly fragile and beam-sensitive samples such as, e.g., Li-based thin-film battery materials, carbon-based nanomaterials or zeolites for catalytic applications. Energy dispersive X-ray (EDX) analytics is required on both instruments, special acquisition modes in STEM are desirable, namely 4D-STEM in combination with the TEM camera, and a segmented detector for differential phase contrast STEM. Besides TEM sample preparation, the FIB instrument shall be employed for 3D imaging by consecutively ion-beam milling and imaging. To warrant smooth and efficient operation of these multi-user instruments, an important aspect lies on automatic or semi-automatic routines, particularly concerning materials processing by FIB.

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber
Empa zentraler Einkauf
Ort
Dübendorf
CPV
38511000 — Elektronenmikroskope
Weitere: 38000000
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
20.06.2025
Angebotsfrist
10.08.2025, 23:59
Kennung
a58903b5-3ccb-49ec-b2a8-60a78eba9df2
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Verlauf des Verfahrens

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 20:24.