Ausschreibung
200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Zu diesem Verfahren liegt bereits ein Zuschlag vor. Die Frist unten steht so in der Bekanntmachung; vergeben ist der Auftrag trotzdem. Zum Ergebnis
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Ort
- Frankfurt (Oder)
- Bundesland
- Brandenburg
- CPV
-
38341300 — Instrumente zum Messen elektrischer Größen
Weitere: 38540000 - Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 23.06.2026
- Angebotsfrist
- 24.07.2026, 12:00
- Kennung
- d6a5e39f-5387-45d4-a3dc-d02f0083775a
- Quelle
- oeffentlichevergabe.de (Bund)
Lose
- Los 1 — 200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Einordnung
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik im Bestand
Auftraggeberprofil: alle Verfahren und Kennzahlen
Quelle: veröffentlichte Bekanntmachungen dieses Auftraggebers aus den angebundenen Vergabeportalen, Stand 10.10.2026.
Vergleichbare Verfahren: Labor- und Messtechnik in Brandenburg
Quelle: veröffentlichte Zuschlagsbekanntmachungen derselben CPV-Abteilung (38) im Bestand von Zuschlagsreif; Werte, die ein Portal nicht veröffentlicht, fehlen in der jeweiligen Zahl. Stand der Auswertung: 10.10.2026. Alle Zuschläge
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
23.06.2026
200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz -
Ausschreibung
25.06.2026
Deutschland – Instrumente zum Messen elektrischer Größen – 200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz -
Ergebnis der Vergabe
06.10.2026
200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz -
Ergebnis der Vergabe
07.10.2026
Deutschland – Instrumente zum Messen elektrischer Größen – 200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 17:51.