Ausschreibung
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-P
27.05.2025
Teilnahmefrist · abgelaufen
2
Lose
Beschreibung
3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 )
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Ort
- München
- Bundesland
- Sachsen-Anhalt
- CPV
-
38511100 — Rasterelektronenmikroskope
Weitere: 38512100 - Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
- Veröffentlicht
- 19.05.2025
- Teilnahmefrist
- 27.05.2025, 23:59
- Kennung
- 6ac00ae5-0c9c-4407-b883-2638f9aede96
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 1
- Los 2
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
19.05.2025
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-P -
Ergebnis der Vergabe
08.12.2025
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-P
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 20:41.