Ausschreibung

Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P

27.05.2025 Teilnahmefrist · abgelaufen

3 Lose

Beschreibung

Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

Dossier ansehen

Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Ort: München
Bundesland: Sachsen-Anhalt
CPV: 38511100 — Rasterelektronenmikroskope
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
Veröffentlicht: 28.04.2025
Teilnahmefrist: 27.05.2025, 23:59
Kennung: 5e6f1027-9737-4392-a1ad-ae40de625b42
Quelle: TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Los 1
Los 2
Los 3

Verlauf des Verfahrens

Ausschreibung 28.04.2025
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P
Ergebnis der Vergabe 10.12.2025
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 21:04.