Ergebnis der Vergabe
Wafer Probe Station (ENAS-12.1) - PR1101164-3340-P
Beschreibung
Wafer Probe Station (ENAS-12.1)
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Ort
- München
- Bundesland
- Bayern
- CPV
- 38552000 — Elektronische Messgeräte
- Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
- Veröffentlicht
- 13.07.2026
- Zuschlag am
- 13.07.2026
- Kennung
- da5c563c-f3b5-433a-999c-ba7b09a94e19
- Quelle
- oeffentlichevergabe.de (Bund)
Zuschlag
- Accretech
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
16.12.2025
Deutschland – Elektronische Messgeräte – Wafer Probe Station (ENAS-12.1) - PR1101164-3340-P -
Ergebnis der Vergabe
13.07.2026
Wafer Probe Station (ENAS-12.1) - PR1101164-3340-P -
Ergebnis der Vergabe
14.07.2026
Deutschland – Elektronische Messgeräte – Wafer Probe Station (ENAS-12.1) - PR1101164-3340-P
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 17:56.