Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Oberflächen-Messgeräte – Automatisiertes SiC-Schichtdickenmessgerät - PR661296-2790-W

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1 Bieter

1 Los

Beschreibung

Automatisiertes SiC-Schichtdickenmessgerät

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Ort: München
Bundesland: Bayern
CPV: 38126000 — Oberflächen-Messgeräte
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
Veröffentlicht: 22.01.2025
Zuschlag am: 17.12.2024
Kennung: 8e9eb5f0-9cf1-4666-bce0-78a1dabbb9b6
Quelle: TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Los 0

Zuschlag

Semilab Semiconductor Physics Laboratory Co. Ltd.Budapest

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Original-Bekanntmachung

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 21:53.