Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Beschaffung eines FIB - Nanoanalyse-/-präparationszentrums

1 € Geschätzter Wert
1 € Zuschlagswert
1 Bieter
1 Los

Beschreibung

Beschaffung eines wissenschaftlichen Nanoanalyse-/-präparationszentrums, bestehend aus einem Multispezies-Plasma-FIB/REM und einem Ga-FIB/REM mit umfangreicher Ausrüstung für die breite Materialforschung, Bauelementforschung und Forschung an hochreaktiven/sensitiven Proben. Das Nanoanalyse- und Präparationszentrum mit seinen beiden zeitgleich DFG-geförderten Forschungsgroßgeräten wird für das hochschulzentrale, DFG-geförderte Gerätezentrum für Mikro- und Nanoanalytik (MNaF) im INCYTE-Forschungsneubau der Universität Siegen beschafft und steht als zentrale Analytikapparatur den Mitgliedern der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät, den universitären Forschungszentren, dem Zentrum für Sensorsysteme (ZESS), dem Center for Micro- and Nanochemistry and Engineering (Cμ), dem Center for Innovative Materials (Cm) sowie hochschulexternen MNaF-Nutzern anderer Forschungseinrichtungen gemäß der MNaF-Nutzerordnung zur Verfügung.

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber
Universität Siegen - Der Kanzler
Ort
Siegen
Bundesland
Nordrhein-Westfalen
CPV
38511100 — Rasterelektronenmikroskope
Verfahrensart
Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
Veröffentlicht
30.01.2025
Zuschlag am
20.12.2024
Kennung
86bd2409-84ca-4ede-a724-8fca029193ef
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Zuschlag

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Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 21:57.