Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Elektronenstrahlaufzeichnungsgeräte – Plasma Focussed ion Beam / Rasterelektronenmikroskop - PR439032-2180-W
Beschreibung
Plasma Focussed ion Beam / Rasterelektronenmikroskop
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Ort
- München
- Bundesland
- Baden-Württemberg
- CPV
- 38341100 — Elektronenstrahlaufzeichnungsgeräte
- Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
- Veröffentlicht
- 11.12.2023
- Kennung
- 0e858169-a3c8-43ad-a8ad-889edad6b260
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Zuschlag
- FEI Deutschland GmbHDreieich
Einordnung
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 im Bestand
Auftraggeberprofil: alle Verfahren und Kennzahlen
Quelle: veröffentlichte Bekanntmachungen dieses Auftraggebers aus den angebundenen Vergabeportalen, Stand 10.10.2026.
Vergleichbare Verfahren: Labor- und Messtechnik in Baden-Württemberg
Quelle: veröffentlichte Zuschlagsbekanntmachungen derselben CPV-Abteilung (38) im Bestand von Zuschlagsreif; Werte, die ein Portal nicht veröffentlicht, fehlen in der jeweiligen Zahl. Stand der Auswertung: 10.10.2026. Alle Zuschläge
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.12.2023, 01:00.