Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops
Beschreibung
Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Ort
- Berlin
- Bundesland
- Berlin
- CPV
- 38511100 — Rasterelektronenmikroskope
- Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
- Veröffentlicht
- 13.12.2023
- Kennung
- 69352bf4-9af8-4239-9abb-98411db215d1
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Zuschlag
- FEI Deutschland GmbHDreieich
Einordnung
Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft e.V. im Bestand
Auftraggeberprofil: alle Verfahren und Kennzahlen
Quelle: veröffentlichte Bekanntmachungen dieses Auftraggebers aus den angebundenen Vergabeportalen, Stand 10.10.2026.
Vergleichbare Verfahren: Labor- und Messtechnik in Berlin
Quelle: veröffentlichte Zuschlagsbekanntmachungen derselben CPV-Abteilung (38) im Bestand von Zuschlagsreif; Werte, die ein Portal nicht veröffentlicht, fehlen in der jeweiligen Zahl. Stand der Auswertung: 10.10.2026. Alle Zuschläge
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 13.12.2023, 01:00.