Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Analytisches Rasterelektronenmikroskop mit mikromechanischer Prüfeinrichtung

1 Bieter
2 Lose

Beschreibung

Analytisches Rasterelektronenmikroskop mit mikromechanischer Prüfeinrichtung

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Ort
Chemnitz
Bundesland
Sachsen
CPV
38511100 — Rasterelektronenmikroskope
Weitere: 38540000
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
18.04.2024
Zuschlag am
09.04.2024
Kennung
018d830d-9bdd-4ee3-9c80-408503a045de
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Zuschlag

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 18.04.2024, 02:00.