Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – PR701449 - Procurement of one Semiconductor Test System
Beschreibung
The division Smart Sensing and Electronics of Fraunhofer IIS is currently looking for a Semiconductor Test System (STS) of manufacturer National Instruments incl. Loadboard, Calibration Kits and software. This PXIe-based test system allows test engineering based on the previous measurements in the lab. Additionally, we are capable of performing series of tests with higher quantities, which will lead to a shorter time-to-market for neuromorphic ICs
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Ort
- Erlangen
- Bundesland
- Bayern
- CPV
- 38500000 — Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 02.09.2024
- Kennung
- 399c39d6-5953-4b8f-b022-c686c44063f7
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 1
Einordnung
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle Bau im Bestand
Auftraggeberprofil: alle Verfahren und Kennzahlen
Quelle: veröffentlichte Bekanntmachungen dieses Auftraggebers aus den angebundenen Vergabeportalen, Stand 10.10.2026.
Vergleichbare Verfahren: Labor- und Messtechnik in Bayern
Quelle: veröffentlichte Zuschlagsbekanntmachungen derselben CPV-Abteilung (38) im Bestand von Zuschlagsreif; Werte, die ein Portal nicht veröffentlicht, fehlen in der jeweiligen Zahl. Stand der Auswertung: 10.10.2026. Alle Zuschläge
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 02.09.2024, 00:00.