Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern - PR468071 -2390 - W
2
Bieter
1
Los
Beschreibung
PR468071 -2390 - W Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Ort
- München
- Bundesland
- Schleswig-Holstein
- CPV
- 38511100 — Rasterelektronenmikroskope
- Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
- Veröffentlicht
- 01.10.2024
- Zuschlag am
- 27.09.2024
- Kennung
- c53eb6c5-192c-4e2c-adc5-dc9c40cd93db
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Zuschlag
- TESCAN GmbHDortmund
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 01.10.2024, 00:00.