Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Optische Instrumente – Equipment- & Prozessspezifikationen Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung - PR659318 - 3340 - W

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Beschreibung

PR659318 - 3340 - W Equipment- & Prozessspezifikationen Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung / Photoinduced Force Mircroscopy PiFM

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Ort: München
Bundesland: Sachsen
CPV: 38600000 — Optische Instrumente
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
Veröffentlicht: 29.10.2024
Zuschlag am: 28.10.2024
Kennung: 89476e15-17c3-4b59-b842-789df31481f9
Quelle: TED (EU-Amtsblatt)

Lose

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Zuschlag

Anfatec Instruments AGOelsnitz

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Original-Bekanntmachung

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 29.10.2024, 00:00.