Ergebnis der Vergabe
Schweiz – Rasterelektronenmikroskope – Plasma FIB/SEM for room-temperature and cryogenic applications
Beschreibung
Das neue Gerät bestehend aus einem Rasterelektronenmikroskop und einer Strahlquelle mit fokussiertem Plasma-Ionenstrahl soll sowohl für Anwendungen bei tiefen Temperaturen (gefrorenes biologisches Gewebe und empfindliche Proben wie z.B. Batteriematerialien) als auch bei Raumtemperatur (alle Arten von festem Material) verwendet werden. Das Gerät muss daher gleicherweise Raumtemperatur- und cryo-kompatibel sein, sowie ermöglichen, die Materialien unter Inertgas/Vakuum-Bedingungen zu transferieren. Bei den Hauptanwendungen handelt es sich um die Herstellung von dünnen Lamellen für die Untersuchung im Transmissions-Elektronenmikroskop und um die Herstellung von zylinderförmigen Proben für die Untersuchung mittels Röntgenstrahlung im Synchrotron. Weitere wichtige Anwendungen sind die Untersuchung von Materialoberflächen (inklusive mit dem Ionenstrahl hergestellte Querschnitte), die Herstellungen von 3D FIB-Tomogrammen und Prototyping. Die Möglichkeiten des Geräts sollen zudem durch ein Fluoreszenz-Lichtmikroskop und energiedispersive Röntgen-Spektroskopie ergänzt werden.
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Paul Scherrer Institut (PSI)
- Ort
- Villigen PSI
- Bundesland
- Schweiz/Suisse/Svizzera
- CPV
- 38511100 — Rasterelektronenmikroskope
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 16.07.2026
- Zuschlag am
- 15.07.2026
- Kennung
- 19816c9b-1f29-4375-8037-6ef4237e704c
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Zuschlag
- DE_FEI Europe B.V.Eindhoven
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
23.03.2026
Schweiz – Rasterelektronenmikroskope – Plasma FIB/SEM for room-temperature and cryogenic applications -
Ergebnis der Vergabe
16.07.2026
Schweiz – Rasterelektronenmikroskope – Plasma FIB/SEM for room-temperature and cryogenic applications
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 19:44.