Zuschlagsreif

Ausschreibung

Schweiz – Rasterelektronenmikroskope – Plasma FIB/SEM for room-temperature and cryogenic applications

20.04.2026 Angebotsfrist · abgelaufen
1 Los

Beschreibung

Das neue Gerät bestehend aus einem Rasterelektronenmikroskop und einer Strahlquelle mit fokussiertem Plasma-Ionenstrahl soll sowohl für Anwendungen bei tiefen Temperaturen (gefrorenes biologisches Gewebe und empfindliche Proben wie z.B. Batteriematerialien) als auch bei Raumtemperatur (alle Arten von festem Material) verwendet werden. Das Gerät muss daher gleicherweise Raumtemperatur- und cryo-kompatibel sein, sowie ermöglichen, die Materialien unter Inertgas/Vakuum-Bedingungen zu transferieren. Bei den Hauptanwendungen handelt es sich um die Herstellung von dünnen Lamellen für die Untersuchung im Transmissions-Elektronenmikroskop und um die Herstellung von zylinderförmigen Proben für die Untersuchung mittels Röntgenstrahlung im Synchrotron. Weitere wichtige Anwendungen sind die Untersuchung von Materialoberflächen (inklusive mit dem Ionenstrahl hergestellte Querschnitte), die Herstellungen von 3D FIB-Tomogrammen und Prototyping. Die Möglichkeiten des Geräts sollen zudem durch ein Fluoreszenz-Lichtmikroskop und energiedispersive Röntgen-Spektroskopie ergänzt werden.

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber
Paul Scherrer Institut (PSI)
Ort
Villigen PSI
CPV
38511100 — Rasterelektronenmikroskope
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
23.03.2026
Angebotsfrist
20.04.2026, 14:00
Kennung
19816c9b-1f29-4375-8037-6ef4237e704c
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Verlauf des Verfahrens

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 17:42.