Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Elektronische Messgeräte – 200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing - PR874550
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Bieter
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Los
Beschreibung
200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing
Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Dossier ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Ort
- München
- Bundesland
- Bayern
- CPV
- 38552000 — Elektronische Messgeräte
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 11.07.2025
- Zuschlag am
- 08.07.2025
- Kennung
- 8764cf2e-a2a5-4eb3-b949-c3b4e002c29c
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Zuschlag
- Tokyo Electron Europe LimitedDresden
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
13.02.2025
Deutschland – Elektronische Messgeräte – 200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing - PR874550 -
Ergebnis der Vergabe
11.07.2025
Deutschland – Elektronische Messgeräte – 200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing - PR874550
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 19:58.