Ausschreibung

Deutschland – Elektronische Messgeräte – 200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing - PR874550

06.03.2025 Angebotsfrist · abgelaufen
1 Los

Beschreibung

200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing

Dossier: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus ein Dossier: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Ort
München
Bundesland
Bayern
CPV
38552000 — Elektronische Messgeräte
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
13.02.2025
Angebotsfrist
06.03.2025, 12:00
Kennung
8764cf2e-a2a5-4eb3-b949-c3b4e002c29c
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Verlauf des Verfahrens

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 21:32.