Direktvergabe
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Beschaffung eines FIB - Nanoanalyse-/-präparationszentrums
Beschreibung
Beschaffung eines wissenschaftlichen Nanoanalyse-/-präparationszentrums, bestehend aus einem Multispezies-Plasma-FIB/REM und einem Ga-FIB/REM mit umfangreicher Ausrüstung für die breite Materialforschung, Bauelementforschung und Forschung an hochreaktiven/sensitiven Proben. Das Nanoanalyse- und Präparationszentrum mit seinen beiden zeitgleich DFG-geförderten Forschungsgroßgeräten wird für das hochschulzentrale, DFG-geförderte Gerätezentrum für Mikro- und Nanoanalytik (MNaF) im INCYTE-Forschungsneubau der Universität Siegen beschafft und steht als zentrale Analytikapparatur den Mitgliedern der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät, den universitären Forschungszentren, dem Zentrum für Sensorsysteme (ZESS), dem Center for Micro- and Nanochemistry and Engineering (Cμ), dem Center for Innovative Materials (Cm) sowie hochschulexternen MNaF-Nutzern anderer Forschungseinrichtungen gemäß der MNaF-Nutzerordnung zur Verfügung.
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Universität Siegen - Der Kanzler
- Ort
- Siegen
- Bundesland
- Nordrhein-Westfalen
- CPV
- 38511100 — Rasterelektronenmikroskope
- Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
- Veröffentlicht
- 09.12.2024
- Kennung
- 86bd2409-84ca-4ede-a724-8fca029193ef
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Einordnung
Universität Siegen - Der Kanzler im Bestand
Auftraggeberprofil: alle Verfahren und Kennzahlen
Quelle: veröffentlichte Bekanntmachungen dieses Auftraggebers aus den angebundenen Vergabeportalen, Stand 10.10.2026.
Vergleichbare Verfahren: Labor- und Messtechnik in Nordrhein-Westfalen
Quelle: veröffentlichte Zuschlagsbekanntmachungen derselben CPV-Abteilung (38) im Bestand von Zuschlagsreif; Werte, die ein Portal nicht veröffentlicht, fehlen in der jeweiligen Zahl. Stand der Auswertung: 10.10.2026. Alle Zuschläge
Verlauf des Verfahrens
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Direktvergabe
09.12.2024
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Beschaffung eines FIB - Nanoanalyse-/-präparationszentrums -
Ergebnis der Vergabe
30.01.2025
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Beschaffung eines FIB - Nanoanalyse-/-präparationszentrums
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 09.12.2024, 00:00.